見證實力 | 走進飛凌嵌入式研發(fā)實驗室
研發(fā)實驗室是一家高新技術(shù)企業(yè)技術(shù)實力與創(chuàng)新動能的核心，一個設(shè)備齊全、流程規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格的實驗室，能夠確保產(chǎn)品功能的先進性、運行的穩(wěn)定性和質(zhì)量的可靠性，使產(chǎn)品在激烈的市場競爭中脫穎而出。十八年來，飛凌嵌入式已成功幫助上萬家企業(yè)完成了產(chǎn)品的快速開發(fā)上市，并為數(shù)千家企業(yè)穩(wěn)定批量供應(yīng)核心板卡等產(chǎn)品，耀眼成績的背后，離不開研發(fā)實驗室的有力支撐。
一、自建千萬級實驗室，國家標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)苛測試
飛凌嵌入式設(shè)有3個研發(fā)實驗室，分別是物理環(huán)境實驗室、電磁兼容實驗室和穩(wěn)定性實驗室，承載的測試項目包含10個大項，每一項測試都旨在模擬產(chǎn)品在實際應(yīng)用中可能遇到的各種極端條件，從而確保產(chǎn)品能夠在多種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行。
1 、物理環(huán)境實驗室
(1) 高低溫/溫度變化/濕熱試驗
高低溫試驗：設(shè)備(產(chǎn)品)的運行環(huán)境溫度會對設(shè)備正常運行性能產(chǎn)生一定的影響，嚴(yán)重時會導(dǎo)致設(shè)備故障或損壞。高低溫試驗就是檢驗電子電氣產(chǎn)品承受這種環(huán)境溫度的適應(yīng)能力——通過模擬極端的高溫(最高+125℃)和低溫環(huán)境(最低-55℃)，測試產(chǎn)品在極端溫度下的工作性能。
溫度變化試驗：溫度變化試驗同樣需要使用到高低溫試驗箱，通過一次或多次的快速溫度變化試驗檢測產(chǎn)品承受這種環(huán)境溫度變化的適應(yīng)能力。
濕熱試驗：環(huán)境溫度或濕度的變化會對設(shè)備正常運行性能產(chǎn)生一定的影響，嚴(yán)重時會導(dǎo)致設(shè)備故障或損壞。濕熱試驗就是檢驗電子電氣產(chǎn)品承受這種環(huán)境溫濕度變化的適應(yīng)能力。濕度范圍為20%~98%RH。
高低溫及濕度試驗箱
(2) 振動試驗/沖擊/碰撞試驗
振動試驗是仿真產(chǎn)品在運輸、安裝及使用環(huán)境中所遭遇到的各種振動環(huán)境影響，用來確定產(chǎn)品是否能夠承受各種環(huán)境的振動。頻率范圍為2-2000Hz，最大振動加速度達981m/s2。
沖擊/碰撞試驗一般是確定設(shè)備在經(jīng)受外力沖撞或作用時產(chǎn)品的安全性、可靠性和有效性的一種試驗方法。本試驗?zāi)M產(chǎn)品在使用過程中可能遭受的沖擊和碰撞，沖擊類型涵蓋半正弦波、前峰鋸齒波、后峰鋸齒波、三角波、矩形波、梯形波和鐘形波，額定推力10kN(1000kgf)。
振動試驗系統(tǒng)
(3) 鹽霧試驗
考慮到某些客戶會將產(chǎn)品應(yīng)用于含鹽潮濕的環(huán)境中，因此鹽霧試驗就必不可少。鹽霧試驗?zāi)M海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境，用于考核產(chǎn)品、材料及其防護層抗鹽霧腐蝕能力。
鹽霧腐蝕試驗箱
(4) 跌落試驗
為了確定產(chǎn)品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，飛凌嵌入式通過跌落試驗機模擬產(chǎn)品意外跌落的情況，檢驗產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)完整性和功能保持能力，或確定安全要求用的最低牢固等級。跌落測試高度最高達到了1500mm。
跌落試驗機
2、電磁兼容實驗室
(1) 靜電放電抗擾度試驗
在電子設(shè)備的運行過程中，常常會遭受靜電放電騷擾，而短暫且強大的放電電流和由電流產(chǎn)生的電磁場可能會引起電子電氣設(shè)備的電路發(fā)生故障和損壞。靜電放電抗擾度試驗的目的就是用來檢驗電子電氣設(shè)備承受這類電磁騷擾的能力。
靜電放電模擬器
(2) 電快速瞬變脈沖群抗干擾度試驗
由于開關(guān)觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因，開關(guān)在斷開電感性負(fù)載（如繼電器，接觸器等）時會在斷開點處產(chǎn)生一種能量較小、單頻譜很寬的暫態(tài)干擾，這種干擾會對電子電氣產(chǎn)品的可靠工作帶來很大的威脅。電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗就是用來檢驗電子電氣設(shè)備承受這類干擾的能力。
(3) 浪涌（沖擊）抗干擾度試驗
高壓開關(guān)操作或雷擊等都可能在電網(wǎng)或通信線上產(chǎn)生暫態(tài)過電壓或過電流,這是一種能量較大的電磁騷擾,這種騷擾可能會引起電子電氣設(shè)備的電路發(fā)生故障或損壞。浪涌(沖擊)抗擾度試驗可以檢驗電子電氣產(chǎn)品承受這種電磁騷擾的能力。
組合式抗干擾度測試系統(tǒng)
(4) 絕緣電阻試驗
絕緣電阻試驗是測試電氣設(shè)備絕緣層在直流電壓作用下呈現(xiàn)的電阻值。采用絕緣電阻測試儀檢測產(chǎn)品的絕緣性能，確保產(chǎn)品在電氣安全方面的合規(guī)性。試驗電壓范圍為250V~1000V。
絕緣電阻測試儀
3 、穩(wěn)定性實驗室
(1) 穩(wěn)定性試驗
在設(shè)備長時間運行、多次加電或重啟的過程中，設(shè)備器件會因為老化、電氣參數(shù)臨界或軟件邏輯設(shè)計不合理而導(dǎo)致概率性出現(xiàn)異常，出現(xiàn)設(shè)備不能正常運行、啟動或重啟的現(xiàn)象，會大幅度降低設(shè)備的可靠性。穩(wěn)定性試驗就是驗證設(shè)備長時間運行、多次加電、重啟過程中的可靠性能力的過程。
可編程多通道直流電源
(2) 接口一致性測試
通過有效的接口一致性測試，可以降低系統(tǒng)故障和風(fēng)險，提升軟硬件質(zhì)量，增加系統(tǒng)的可信度，確保各個組件之間的協(xié)調(diào)運作，降低系統(tǒng)故障和崩潰的風(fēng)險。模擬帶寬23GHz，采樣率達100GS/s。
混合信號示波器
飛凌嵌入式研發(fā)實驗室配備國際先進的測試設(shè)備和儀器，以及一支由資深工程師和技術(shù)專家組成的專業(yè)研發(fā)實驗團隊，致力于通過一系列精確、嚴(yán)格的測試來確保每一款飛凌嵌入式產(chǎn)品都能達到行業(yè)領(lǐng)先標(biāo)準(zhǔn)。
二、持續(xù)發(fā)展，持續(xù)進步
飛凌嵌入式研發(fā)實驗室以其卓越的測試能力和專業(yè)的研發(fā)團隊，為企業(yè)產(chǎn)品的持續(xù)創(chuàng)新和品質(zhì)提升提供了堅實的支撐。值得注意的是，飛凌嵌入式近期已啟動智慧園區(qū)改擴建項目，新園區(qū)規(guī)劃總辦公面積約31000平方米，將融合研發(fā)、生產(chǎn)、行政辦公及倉儲功能，構(gòu)建一個高度數(shù)字化的綜合園區(qū)。
此次智慧化改造也將進一步提升實驗室的研發(fā)效率與試驗?zāi)芰ΑＯ嘈棚w凌嵌入式能夠在未來的發(fā)展中不斷創(chuàng)造新的輝煌，為我國嵌入式產(chǎn)業(yè)的繁榮做出更大的貢獻。
相關(guān)產(chǎn)品 >
-
FET3568-C核心板
RK3568性能強而穩(wěn) 國產(chǎn)芯|飛凌嵌入式RK3568系列核心板，采用瑞芯微國產(chǎn)高性能AI處理器RK3568設(shè)計生產(chǎn)，RK3568兼具CPU、GPU、NPU、VPU于一身，RK3568 性能、性價比在同類產(chǎn)品中具有較高優(yōu)勢，RK3568處理器是一款定位中高端的通用型SoC， 飛凌RK3568核心板主要面向工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、HMI、NVR存儲、車載中控、工業(yè)網(wǎng)關(guān)等領(lǐng)域。目前RK3568系列已經(jīng)批量穩(wěn)定出貨
了解詳情
-
FET62xx-C核心板
FET6254-C核心板基于TI Sitara? AM62x系列工業(yè)級處理器設(shè)計。采用Arm Cortex A53架構(gòu)，并集成了廣泛的接口，如2路支持TSN的千兆以太網(wǎng)、USB 2.0CAN-FD，AM6254核心板兼容AM62x全系列處理器，提供單核、雙核、四核可選，功能引腳完全兼容，飛凌嵌入式已經(jīng)適配AM6254 AM6231 AM6232三款芯片為您帶來靈活的成本組合方案，AM62x可應(yīng)用于廣泛的工業(yè)環(huán)境，如人機界面(HMI)、工業(yè)計算機、邊緣計算、零售自動化、充電樁控制單元(TCU)、醫(yī)療設(shè)備等。
了解詳情
-
FET-MX9352-C核心板
FET-MX9352-C核心板基于NXP i.MX9352處理器開發(fā)設(shè)計， i.MX9352集成2個Cortex-A55核和1個Cortex-M33實時核，主頻達1.5GHz， 原生支持8路UART、2路Ethernet(含1路TSN)、2路USB 2.0、2路CAN-FD總線等常用接口。飛凌iMX93x系列在經(jīng)市場驗證的 i.MX 6和i.MX 8基礎(chǔ)上進行了升級，集成NPU 可加速邊緣機器學(xué)習(xí)應(yīng)用，i.MX9352核心板體積小巧，便于嵌入到您的產(chǎn)品中。
了解詳情
-
FET527N-C核心板
全志8核 Cortex-A55 64位處理器T527，為您的AI應(yīng)用賦能。FET527N-C核心板基于全志T527系列高性能處理器開發(fā)設(shè)計，集成了8個ARM?Cortex-A55高性能核，同時內(nèi)置1個RISC-V核和1個DSP核。 具有2TOPS算力的NPU，為您的AI應(yīng)用賦能。核心板采用板對板連接方式，可插拔式設(shè)計便于產(chǎn)品的安裝與維護。 產(chǎn)品通過飛凌嵌入式實驗室嚴(yán)苛的工業(yè)環(huán)境測試，為您的產(chǎn)品穩(wěn)定性保駕護航。同時，F(xiàn)ET527N-C核心板具有10~15年生命周期，為您的產(chǎn)品提供持續(xù)供應(yīng)保障
了解詳情
換一批
